LED半導體芯片金線檢測案例

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2021/04/22

編寫:POMEAS

2021年我國迎來了半導體高速發展的一年, LED 技術也在的快速發展以及LED 光效的逐步提高,LED的應用將越來越廣泛,2020年國際形勢緊張全球性能源短缺問題的日益嚴重,大家也越來越關注LED芯片市場的發展前景,近期公司接到半導體檢測的項目越來越多,如金線焊腳檢測、斷線檢測、定位檢測等項目

 

普密斯作為一家視覺解決方案的老牌公司,全力為LED半導檢測普及鋪平道路,本期普密斯帶來的案例是,LED半導體芯片金線檢測案例,金線作為芯片和外部電路主要的連接材料,更需有嚴謹的檢測方案,本方案主要檢測LED半導體芯片上金線是否焊接合格,有無斷線、跳線、錫液溢出等不良瑕疵。

  

 

 

項目難點:

——

 

① 金線體積很小,且表面金屬反光明顯;

 

② 單一工位檢測無法檢測出多種不良情況,容易出現漏判情況;

 

③ 人工在高倍顯微鏡下檢測效益低,且人工易出現疲勞。

 

 

 

解決方案:

——

 

1、使用高精度500W彩色CCD相機;

 

2、鏡頭使用高精度12.5X高變倍比鏡頭;

 

3、光源搭配白色同軸和小角度小內徑環形光源;

 

4、通過雙工位多角度檢測金線錫珠情況,可代替人工檢測,解決檢測效益低下問題。

 

 

 

演示方案

——

 

 

 

工位1 檢測芯片金線與芯板正面焊接處是否合格,有無跳線和斷線,還可以用來檢測其他導線狀態

 

工位 2 檢測芯片金線與芯板焊接處是否有焊接不牢等不良瑕疵。

 

 

 

核心配件介紹:

——

 

一、普密斯500W高清CCD相機

 

新一代千兆網相機具有更低功耗和更小的體積,1000m bit/s穩定傳輸兼容百兆網,低功耗,低噪聲,高穩定性,在各個場景和色溫下都能真實還原圖像畫面,保持清晰銳利。

 

 

 

二、普密斯高精度變倍鏡頭:PMS-Z125C-C、PMS-Z125D

 

為了保證將金線焊接狀態完整凸顯出來,使用雙工位變倍鏡頭方案從不同角度觀測目標。

優點:

 

一、工位1帶有同軸落射照明結構,可使入射光均勻照射產品表面,清晰凸顯表面的特徵;

 

二、工位2採用非同軸定倍鏡頭,分辨率高,低畸變,光學性能優異,從側面觀察金線焊接狀態;

 

三、模塊化設計,可根據不同產品大小靈活搭配不同配件滿足使用;

 

四、穩定性、可在震動環境下保持機械的穩定性;

 

 

三、普密斯光源

 

普密斯點光源有紅光同軸點光源、綠光同軸點光源、藍光同軸點光源、紫光同軸點光源,本案例我們採用是白色同軸點光源。出射光均勻,可清晰凸顯出金線焊接處的錫液有無溢出、缺失等瑕疵,方便檢測區分。結構輕巧,安裝方便。

 

 

普密斯的環形光源種類齊全,多色多角度,本案例中用到高角度小內徑的環形光源,高密度LED排列,內徑小,光束集中,亮度高。將金線焊接處側面效果清晰打出,檢測焊接是否斷開。

 

 

 

 

案例結果展示:

——

 

Actual image for the front welding place of the gold wire and the chip 

 

Actual image for the side welding place of the gold wire and the chip

 

需要了解更多案例,請聯繫普密斯在線客服,普密斯會根據您反饋信息實時更新應用方案。另:普密斯可以提供整套的視覺解決方案硬件全套,如對本方案有疑問請諮詢在線客服! 

 

 

 

 

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