在IC集成芯片器件生產過程中，芯片的外觀質量檢測是其中一項必不可少的環節，包括芯片的引腳尺寸、殘缺、偏曲、間距不均、平整度差等檢測項目，而上述質量問題會直接影響電路產品的質量。傳統芯片檢測是採用人工目測的方法，這種方式會受人為因素的影響，易發生漏檢、誤檢、速度慢等問題。隨著科技的發展，大多數電子元件行業都用上了機器視覺來輔助生產，這可以提高微觀級別工藝檢測精度和效率，降低成本。
普密斯作為機器視覺及工業自動化核心產品供應商，集機器視覺設備及配件研發、製造、銷售於一體，可提供IC芯片瑕疵視覺檢測方案。
方案配件：
1. 鏡頭：普密斯自主研發工業鏡頭，多種類型可選，可滿足清晰成像及瑕疵識別需求。
2. 相機：普密斯千兆網高速工業相機，可實現高速拍照識別，傳輸穩定，圖像質量高，滿足自動化高效檢測需求。
3. 光源：外置同軸光源，畫面均勻性好，更清晰的識別缺陷。
4. 圖像分析系統：自主研發字符識別軟件，確定檢測精度能滿足要求。
此方案可以實現對芯片的高速、高精度檢測，識別準確率能達到99.6%以上，完全滿足客戶要求，還可用於電子、食品、醫藥、汽車等用到字符識別的所有行業。
技術方案
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