檢測要求：
在顯示面板的檢測中，常通過線路中導電粒子的數量與均勻性檢測來實現導電性的自動檢測。分佈更均勻的導電粒子導電穩定性更強，分佈不均則可能出現一部分區域電路連通性差，另一區域卻出現短路狀況。因此需要做好嚴格的視覺檢測，確保產品的品質。
導電粒子的粒徑微小，傳統的人工目檢操作複雜、成本高，易受操作人員主觀影響，無法滿足高精度檢測要求。而且檢測時並不是直接觀測導電粒子單體，而是檢測面板下被熱壓合後的導電粒子，難度更加升級。
自動化光學檢測系統具有非接觸性、操作簡單，量測速度快等優勢，但是市面上光學配件種類多樣，應該如何搭配才能滿足檢測要求呢？
檢測方案：
採用普密斯（DIC）微分乾涉系統可以呈現立體浮雕效果，能夠捕捉面板上微小的凸起，結合同軸光譜鏡頭可以瞬間自動對焦，實現高數值孔徑觀察，滿足高分辨率檢測要求。採用模塊化設計，可在保證性能的同時，兼容其他鏡頭、光源的搭配，增強使用場景的靈活性，滿足檢測需求的多樣性。
檢測效果：
技術方案
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